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四軸定位IC掃描儀

]資料
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產(chǎn)品名稱: 四軸定位IC掃描儀
產(chǎn)品型號: ICS 105 set
產(chǎn)品展商: Langer
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔


簡單介紹
ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量，空間分辨率可達50μm。

四軸定位IC掃描儀

的詳細介紹

  • ICS 105 set, 四軸定位IC掃描儀
  • ICS 105 application with CS-Scanner software
    ICS 105 application with CS-Scanner software
  • ICS 105 with SH 01 probe holder
    ICS 105 with SH 01 probe holder
  • ICS 105 with UH DUT universal holder
    ICS 105 with UH DUT universal holder
  • ICS 105 set with UH DUT universal holder and device under test
    ICS 105 set with UH DUT universal holder and device under test
ICS 105型集成電路掃描儀，可對集成電路和小型組件進行高頻近場測量。根據(jù)使用的探頭情況，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內(nèi)對磁場或電場進行測量，并在電腦上顯示測量結(jié)果。此外，探頭可自動旋轉(zhuǎn)以確定磁場的準確方向。 可單獨訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量，空間分辨率可達 50μm。

Technical parameters
電源電壓 110 / 230 V
接口 USB
大過程路徑 (50 x 50 x 50) mm
α-Rotation ±180°
小過程路徑 (10 x 10 x 10) μm
α-Rotation 1°
移動速度 (10 x 10 x 5) mm/s α-Rotation 90°/s
重量 23 kg
尺寸 (L x W x H) (350 x 400 x 420) mm
3D-掃描 3D-掃描
表面掃描 表面掃描

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