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EMC診斷分析系統(tǒng)
更詳細(xì)的產(chǎn)品分類
三維多功能掃描儀
IC EMC測試設(shè)備
電磁干擾掃描系統(tǒng)
抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號(hào)
產(chǎn)品簡單介紹
電磁兼容診斷系統(tǒng)
RSE321
電子產(chǎn)品中的電場，磁場和熱分布的設(shè)計(jì)，診斷和調(diào)試是極其重要的幾個(gè)環(huán)節(jié)，它們將直接影響電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。而這些性能的調(diào)試一直以來由于無法＂可視觀察＂而很困難進(jìn)行。工程師往往只能夠憑工作經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行反復(fù)試驗(yàn)。電磁兼容診斷系統(tǒng)積聚了現(xiàn)代電子產(chǎn)品的工程調(diào)試經(jīng)驗(yàn)，運(yùn)用了*先進(jìn)的高靈敏度高精度近場傳感器技術(shù)，結(jié)合了計(jì)算機(jī)和頻譜分析的成熟手段，電磁兼容診斷系統(tǒng)是給工程師以*方便實(shí)用的工具。
IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)
IEC61967-6
EC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導(dǎo)線上的電流來評(píng)定集成電路的電磁發(fā)射所組成的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)。IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)是芯片引腳通過PCB板上的導(dǎo)線與電源或外圍電路相連，因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個(gè)靠近的磁場探頭獲取，由電磁感應(yīng)定律，探頭輸出端的電壓正比于導(dǎo)線上的射頻電流。
抗干擾開發(fā)系統(tǒng)
E1
大部分電子產(chǎn)品需要通過電快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)測試。測試時(shí)，把干擾脈沖從設(shè)備外部耦合到內(nèi)部，同時(shí)監(jiān)視設(shè)備的工作狀態(tài)。如果設(shè)備沒有通過這些標(biāo)準(zhǔn)的測試，測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。 E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)能采用不同的方式，向電子模塊直接注入干擾電流、電場和磁場，在設(shè)備內(nèi)部仿真干擾的過程，以定位電路板上電磁薄弱點(diǎn)，理解耦合機(jī)理，完成優(yōu)化后的設(shè)計(jì)修改。 E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)不能按照某個(gè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行兼容性測試。所以建議先對(duì)被測物進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的抗干擾測試（必要的話，在EMC實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測試），然后對(duì)可能的故障原因進(jìn)行分析，再利用E1抗干擾開發(fā)系統(tǒng)來找出更多的故障原因，并利用E1在產(chǎn)品開發(fā)場地進(jìn)行設(shè)計(jì)修改的評(píng)估。
高分辨率電磁干擾掃描系統(tǒng)
EMxpert EHX+
EMxpert EHX+ 高分辨率電磁干擾掃描系統(tǒng)具有1218個(gè)探頭，內(nèi)置高性能頻譜分析儀能夠?qū)崟r(shí)看清電磁場，準(zhǔn)確定位電磁干擾問題。EMxpert EHX+ 高分辨率電磁干擾掃描系統(tǒng)把EMC問題的考慮和抑制引入到設(shè)計(jì)階段，讓設(shè)計(jì)工程師及早發(fā)現(xiàn)問題，及時(shí)從根源采取有效措施，消除或抑制電磁干擾，從而加快產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)程，提高設(shè)計(jì)質(zhì)量，節(jié)省開發(fā)費(fèi)用，確保產(chǎn)品及早通過EMC測試。
E1 磁場探頭
S2 set
電子設(shè)備和電子元件在干擾作用下會(huì)產(chǎn)生快速瞬態(tài)脈沖磁場，E1 磁場探頭 S2 set探頭組中包含的有源和無源磁場探頭可以無反饋地測量這些快速瞬態(tài)脈沖磁場。借此就可以分析爆沖或ESD-過程，爆沖或ESD會(huì)對(duì)受測物產(chǎn)生干擾。磁場探頭通過光纖連接把測得的信號(hào)傳到SGZ 21的光學(xué)輸入口。E1 磁場探頭 S2 set探頭組只能與脈沖群發(fā)生器SGZ21 連接使用。
IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)
TEM小室法
依據(jù)IEC 61967-2的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)-TEM小室法其實(shí)就是一個(gè)變型的同軸線，由一塊扁平的芯板作為內(nèi)導(dǎo)體，外導(dǎo)體為方形，兩端呈錐形向通用的同軸器件過渡，一頭連接同軸線到測試接收機(jī)，另一頭連接匹配負(fù)載。IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)中的小室的外導(dǎo)體頂端有一個(gè)方形開口用于安裝測試電路板。
IC測試板
HS61967-1
依據(jù)IEC 61967-1 IC測試板，由接地平面、IC適配器、連接板等組成。 集成電路電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132以及IEC 62215。
IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)
1Ω/150Ω直接耦合法
依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)-1Ω/150Ω直接耦合法是根據(jù)集成電路電磁兼容測試標(biāo)準(zhǔn)，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132 。依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測試系統(tǒng)-1Ω/150Ω直接耦合法，用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測試。
IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)
HS62215
IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)是根據(jù)集成電路電磁兼容的測試標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng)，IC脈沖群抗擾度測試系統(tǒng)主要有電磁發(fā)射測試標(biāo)準(zhǔn)IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測試）、電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試）以及脈沖抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62215。
溫度掃描儀
Heat Scanner
對(duì)于任何想要檢測被測件溫度分布的人來說，要同事兼顧精度和成本的話，Detectus生產(chǎn)的溫度掃描儀是不錯(cuò)的選擇，溫度掃描儀具有很高的分辨率，測試結(jié)果可以用二維和三維的形式呈現(xiàn)出來。
PCB板電磁兼容掃描系統(tǒng)
RSE642
PCB板電磁兼容掃描系統(tǒng)配合高精度近場探頭對(duì)集成電路進(jìn)行高精度電磁場掃描，探頭可三維移動(dòng)，3D顯示，快速定位；PCB板電磁兼容掃描系統(tǒng)還可連接溫度探頭，進(jìn)行溫度檢測。
電磁場掃描儀
EMC Scanner
EMC scanner電磁場掃描儀配合高精度近場探頭對(duì)集成電路進(jìn)行高精度電磁場掃描，EMC scanner電磁場掃描儀的探頭可三維移動(dòng)，3D顯示，快速定位。
四軸定位IC掃描儀
ICS 105 set
ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對(duì)集成電路和小型組件進(jìn)行高頻近場測量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨(dú)訂購的 ICR 型近場微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測量，空間分辨率可達(dá)50μm。
電磁兼容掃描儀
HRE-1
高分辨率電磁兼容掃描儀HRE-1擁有25μm的分辨率，細(xì)致入微；同時(shí)高分辨率電磁兼容掃描儀HRE-1引入3D表面模型，讓測試更立體。
緊湊型電磁干擾掃描系統(tǒng)
EMxpert
EMxpert緊湊型電磁干擾掃描系統(tǒng)把EMC問題的考慮和抑制引入到設(shè)計(jì)階段，讓設(shè)計(jì)工程師及早發(fā)現(xiàn)問題，及時(shí)從根源采取有效措施，消除或抑制電磁干擾，從而加快產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)程，提高設(shè)計(jì)質(zhì)量，節(jié)省開發(fā)費(fèi)用，確保產(chǎn)品及早通過EMC測試。EMxpert緊湊型電磁干擾掃描系統(tǒng)，由ISM電磁干擾掃描器、控制適配器以及頻譜分析儀/接收機(jī)組成。
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